中國中國香港 –2009年8 月

       岱美拿到FEI TEM Tecnai 20 透射顯微鏡的訂單, 客戶是一間中國香港的大學, 從事物理, 化學及生物的研究工作。
       Tecnai20可以根據不同用戶的配置要求供貨。標準型儀器提供了已被證實的多項先進技術: 既可得到膏分辨圖像又保持高傾角(蕞大40°)的S-TWIN物鏡, 提供樣品**控制和機械穩定性優異的CompuStage樣品臺。Tecnai 20可以安裝完全集成式設計的數字化的STEM(透射掃描附件)、EDX(能譜儀)和能量過濾或EELS(能量損失譜)。這些技術可結合起來完成頻譜分布和頻譜圖像的分析工作。Tecnai 20為材料分析研究用戶提供了穩定性、操作方便性和高性能的優異組合。無論是在常規分析, 還是亞微米研究, Tecnai 20都能夠滿足日益增多的樣品數量。
     （該系統預計于2010年3月交付，安裝）