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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV膜厚儀的訂單（2012.06.01）

發布時間：2020-06-10

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       岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV的訂單。該客戶是一家優越的專門模擬芯片代工廠，主要專門制造仿真半導體及雙極型內容較高的混合訊號半導體，在汽車電子，MEMS，以及IGBT領域具有優越地位。公司的客戶包括部分全球優越的集成器件制造商及無生產線半導體公司，產品用于各類終端市場應用方案，包括計算機，通訊及電子消費品。F20-UV儀器主要用于測量SiO2及GST等各種膜層的厚度。
       F20-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量1nm-40um范圍的膜層厚度，精度高達0.1nm，是一款性價比很高的膜厚測量設備。
       （系統將于2012年9月交付，安裝和和驗收）
       F20-UV膜厚儀：
膜厚儀
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