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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV_X膜厚儀的訂單（2012.12.3）
發布時間：2020-06-16
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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UVX的訂單。該研究所為中科院下屬科研院所，成立于1954年，主要從事發光學、應用光學、光學工程、精密機械與儀器的研發生產。目前該所已成為我國上等航天光學遙感器、機載光電平臺及大型光測裝備的主要研制、生產基地，并為我國的國防建設、經濟發展和社會進步做出了一系列突出貢獻。該用戶采購F20-UVX儀器主要用于光子晶體激光器項目中各種膜層的厚度及光學常數。
F20-UVX膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1700nm的紫外可見紅外光干涉測量，能夠測量1nm-250um范圍的膜層厚度，準確度高達為0.4%或2nm，精度為0.1nm，光源采用氘燈或鎢鹵素燈，是一款性價比很高的膜厚測量設備。該產品將于2012年12月中旬，交予客戶正常使用。
滬公網安備 31011502016664號
唐女士-華南、西南