美國Filmetrics公司生產的薄膜厚度測量儀利用光譜反射的原理，測量精度達到埃級的分辯率,測量快，操作簡單及*具性價比的薄膜厚度測量設備。設備測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍從215nm到1700nm，測量厚度從10A到350um范圍。凡是光滑的，透明或半透明的，或是對光有吸收的膜層都可以測量。
       同時我們根據相關科研前沿的客戶相關需求，開發研制了F30系列，主要應用于相關的在線薄膜厚度實時測試及相關設備動態沉淀速率的動態實時檢測，此設備可實現多波段檢測及客戶感興趣的任意單一波段實時檢測，同時該設備具備其他型號的靜態檢測功能。