岱美中國的Filmetrics膜厚測量樣機

發布時間：2020-06-23

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作為美國Filmetrics膜厚測量儀的正式授權經銷商，岱美中國同事不斷地在銷售與技術支持方面提升，而且目前擁有F20-EXR，F20-UV X,F50，aRTie(F2-RT)及F10-ARc樣機。我們的樣機可為客戶提供以下服務：

1. 免費幫客戶進行各種樣品測量；

2. 免費為客戶進行樣品測量演示；

3. 免費提供給客戶試用（按具體情況）；

4. 免費借用給經岱美中國購買過設備的用戶（按具體情況）；

5. 有償為客戶進行批量樣品測量（按具體情況）。

樣品家簇：

使用F20上等頻譜反射測量系統，我們能輕松的實現對膜層厚度和光學常數(n和k值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光譜進行分析，數秒內我們即可得到膜層的厚度、折射率和消光系數。

F20 – 經典及熱賣型號，國內裝機超過百套

F20-EXR – 在F20的基礎上，從可見光波段增加到近紅外波段，適合更厚薄膜樣品的測量，給客戶更大的使用彈性

F20-UV X – 在F20的基礎上，在可見光波段的基礎上不僅增加了近紅外波段還增加了紫外波段，波段從200nm 到1700nm，幾乎涵蓋了從極薄樣品到極厚樣品的測量

F50 自動化薄膜厚度繪圖系統

透過F50先進光譜測量系統，用戶能簡單快速地獲得待測薄膜之厚度分布及光學參數。采用r-θ極坐標移動平臺，從定位測量點位到完成測量，只需要幾秒鐘的時間。依不同地需求，用戶能繪制適合之點位地圖。除了通用的極坐標式、矩形式、及線性式點位地圖供選擇，也可依需求自行繪制。整個系統僅需幾分鐘即可完成安裝，您只需具備基本的電腦技能就可以熟練使用。